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LZ-373

デュアルタイプ膜厚計

ペンキ等の被膜の厚みを測定する膜厚計です。1台で磁性、非磁性金属の被膜測定に対応できます。

メーカー ケツト科学研究所
測定項目 膜厚

特長

測定範囲
電磁誘導式:0~2500μmまたは99.0mils
渦電流式:0~1200μmまたは47.0mils

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